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急速溫度變化試驗機TCC系列

從JEDEC規格到Screening，符合對應試料的急速溫度變化的｢急速溫度變化Chamber｣。以固定試料溫度變化率的試料溫度制御技術為首，投入急速溫度變化技術、LAMP制御技術等種種新技術。ESPEC以下世代業界為標準創造出新的Chamber

特點

透過優越的溫度分布實現均等的Stress：
透過溫度變化中的優越溫度分布性能，能給予均等的再現性高Stress。溫度變化中的分布誤差會造成試驗很大影響，為此，透過模擬試驗計算出最適合的風量及風速。也能將因試驗空間內的測試材料設置位置不同所造成壓力的不同抑制在最小限度。
實現制御試料溫度lamp的新機能：
爲了將試料溫度變化率固定，開發了採用試料溫度測定sensor(一點)與能高精密度lamp制御試料溫度的高速制御controller。比起以前的 controller，測定與制御能更高速處理之外，擴大低溫時的冷凍能力或試料與空氣溫度差能抑制在最小限度的空調技術、將試料溫度分布與最小風速分布均等化等，各式各樣的新技術造就了試料溫度lamp制御機能。
對應JEDEC規格(JESD22-A104B)的規格試驗：
實現半導體包裝評價、銲錫接合部評價JESD22-A104B規格的｢急速溫度變化Chamber｣，能執行將試料溫度lamp控制在15℃/分(－40～＋125℃)。
可對應試料溫度制御與空氣溫度制御。

基本規格